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零缺陷世界中的汽车集成电路生产晶圆测试

汽车IC生产晶圆试验的挑战在零缺陷的要求中。

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作者:Amy Leong, FormFactor

汽车半导体IC中的创新贴为晶圆试验的高条。FormFactor的首席营销官Amy Leong,为零缺陷的要求提供了与汽车IC生产晶圆测试相关的挑战的见解。

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