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在线监控的输入和输出

预测故障和提高可靠性的技术。

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在7nm和5nm,在线监测变得至关重要。Moortec首席执行官Steve Crosher谈到了复杂性上升的影响,不同的用例和实现如何影响可靠性和正常运行时间,以及为什么测量电气、电压和热应力可以用于统计预测故障,并提高芯片整个寿命的可靠性。



2评论

吉姆·劳埃德 说:

作为一名可靠性物理学家,我觉得这次谈话有点令人失望。我希望看到什么物理模型和统计数据是用来做出整个芯片性能的评估

ed sperling. 说:

嗨吉姆,留在这一点的一些后续行动。

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