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数字测试增大或减小


大型数字集成电路越来越难以以一种时间和成本效益的方式进行测试。特别是人工智能芯片,由于所需的测试矢量的数量,其平铺结构给旧的测试策略带来了压力。在某些情况下,这些芯片太大了,超过了网线的尺寸,需要将它们缝合在一起。需要新的测试效率……»阅读更多

通过模拟内容威胁的设备?


随着所连接设备中的模拟内容的量爆炸,确保模拟部分正常工作已经采用了新的紧急程度。可以解释物理世界并将数据移动到系统的其他部分,而数字电路是处理它的最快方法。因此,一个传感器,在高速或......移动到高速或......»阅读更多