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Pic秒超声波技术的优点,用于高级RF计量


本文来自中国半导体技术国际会议(CSTIC)。PICOSECOND超声波(脉冲技术)已被广泛采用作为全球半导体FAB的金属膜厚度计量的记录工具。它提供独特的优势,例如快速,非接触,非破坏性技术,并且具有同时多层的能力......“ 阅读更多

晶体管和集成电路架构的未来


德赢娱乐网站【官方平台】半导体工程坐落下来讨论芯片缩放,晶体管,新架构以及NVIDIA的制造业和工业的全球业务开发负责人的杰瑞陈;林研究所计算产品副总裁大卫炒面;Mark Shirey,营销副总裁和KLA副总裁;和D2S首席执行官的Aki Fujimura。以下是摘录......“ 阅读更多

寻找高级包装中的开放缺陷


捕捉芯片封装中的所有缺陷变得越来越困难,需要混合电气测试、计量筛选和各种类型的检查。这些芯片的应用越关键,付出的努力和成本就越大。潜在的开放缺陷继续成为测试、质量和可靠性工程的祸患。封装中的开放缺陷发生在芯片到衬底处。“ 阅读更多

自动IC的部分平均测试不够好


部分平均测试(PAT)已长期用于汽车。对于一些半导体技术,它仍然可行,而对于其他人来说,它不够好。汽车制造商正在支撑在高级流程节点开发的芯片,其具有很多令人振奋的。到目前为止,对供应链的紧密控制和依赖成熟的电子流程使他们能够增加电子组成......“ 阅读更多

自动化测试设备制造商的计量


新技术要求有效的资格基础设施来确定和符合技术规范。计量是基于经过验证的国际标准来确定确认规范设定过程的科学。本文介绍了自动化测试设备业务中的计量及其作用和益处。由Piotr Skwierawski和Ralf Haefner。点击她...“ 阅读更多

使用PicoSecond超声计量使用厚度和声速能力监测3D NAND中的关键过程步骤


基于非晶碳(A-C)的硬质面罩提供优异的蚀刻选择性,化学惰性,是机械强的,并且已被用于蚀刻常规光致抗蚀剂不能承受的深度高纵横比特征。Pic秒超声技术(脉冲技术)已广泛用于薄金属薄膜计量,因为其独特的优势,如快速,非......“ 阅读更多

眼睛对零缺陷:缺陷检测和表征计量


由Darin Collins和Jessica albright Metrology是测量,表征和分析材料的科学。在计量中,有几种技术用于在非常小的尺度上检测材料缺陷 - 在追求零缺陷时每万亿或更低的零件的尺度精度。我们广泛地将其特征方法定义为三个主要类别......“ 阅读更多

具有PICOSECOND超声计量的高级RF全部计量解决方案


皮秒超声技术(PULSE Technology)以其快速、非接触、无损、可同时进行多层测量等独特优点,在金属薄膜测量中得到了广泛的应用。同时测量透明和半透明薄膜的速度和厚度不仅提供了监测的潜力。“ 阅读更多

高级节点中的变异威胁,包增长


对芯片制造商来说,随着他们推进下一个工艺节点或进入越来越密集的高级封装,变化正成为一个更大、更复杂的问题,这引发了人们对单个设备甚至整个系统的功能和可靠性的担忧。在过去,几乎所有关于变化的关注都集中在制造过程上。打印在硅片上的东西没有…“ 阅读更多

制造部件:11月9日


Paul Scherrer研究所(PSI)开发了一种用于扫描电子显微镜(SEM)应用的开源软件技术。该技术是针对EUV电阻测量。该技术被称为SMILE (SEM- measured Image Lines Estimator),是一种开源软件技术,用于表征SEM中的线和空间模式。微笑是用来…“ 阅读更多

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