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模型变异及其对细胞特性的影响


EDA(电子设计自动化)细胞表征工具已被广泛使用,以便在快速越来越多的过程角上产生定时,功率和噪声的模型。如今,模型变异已成为细胞表征的关键组分。变化可以影响由于过程,电压和温度变化引起的电路时序,并导致时间违规,导致我...“ 阅读更多

机器学习使记忆设计的高西格玛验证


新兴的应用程序和大数据爆炸使得内存ip在现代电子产品中无处不在。具体来说,数据中心和云计算服务器对低芯片面积、低电压、高容量、高性能的存储器的需求正在上升。这对于服务指数级增长的连接繁荣和最新的基于5G的系统至关重要,包括……“ 阅读更多

蒙特卡罗分析使用Synopsys定制设计平台


在本系列的第5段视频中,Synopsys工程总监王凯解释了使用蒙特卡罗技术提高产量的必要性,以及设计师如何使用变型范围和sigma放大等先进功能来避免昂贵的MC模拟。点击这里观看本视频白皮书。“ 阅读更多

模拟设计中的问题和解决方案


先进的芯片设计正在成为每个新节点的模拟和数字的大均衡器。模拟IP具有更多的数字电路,数字设计更容易受到多年困扰模拟设计的噪声和信号中断的影响。这是使SoC的设计,测试和包装更加复杂。模拟组件导致最大芯片生产测试失败......“ 阅读更多

生产设计流程的时序库LVF验证


在几年内,变化建模从代表片上变化(OCV)的单个降额因子,自由变化格式(LVF),今天是封装定时库(.libs)中的变化信息的领先标准格式。LVF数据被认为是对高级过程节点22nm及以下的要求。在最小的流程节点,如7nm和...“ 阅读更多

汽车IC设计要求下一代高Σ验证


通过Jeff Dyck,需要高Σ分析来验证复制的组件,如内存块和标准单元,以及用于展示汽车和医疗应用的关键任务可靠性。使用Brue-Force Monte Carlo验证高西格玛是不可行的,因为这需要10多千万模拟,以达到5分钟和数十亿,以达到6分钟。......“ 阅读更多

工艺变化和老化


德赢娱乐网站【官方平台】半导体工程坐落下来讨论Ansys半导体商业部门首席技术专家JoãoGeada的设计可靠性和电路老化;Hany Elhak,在Cadence的Custom IC和PCB组中的产品管理总监,模拟和表征;Christoph Sohrmann,在Fraunhofer EA中进行高级物理验证;销售副总裁兼山脉Khan ...“ 阅读更多

SRAM在恶劣环境机械应力下的可靠性预测


在28nm SRAM阵列的示例中,该工作提出了一种新颖的可靠性研究,该研究考虑了电路模拟中外部应用的机械应力的影响。该方法能够通过压阻效果预测由应力引起的钻头故障。使用静态噪声裕度模拟每个单个SRAM单元的稳定性。最后,整个阵列的行为......“ 阅读更多

克服三维逻辑设计挑战的实用方法


如果您的地板上没有足够的空间来存储所有旧盒子,你该怎么办?幸运的是,我们生活在一个3D世界中,你可以开始将它们堆叠在彼此之上。挑战:我们如何缩小逻辑设备?逻辑设计人员目前面临的挑战甚至比您在整理您的存储区域的内容甚至更大。逻辑单元不仅高度包装在一起......“ 阅读更多