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在汽车中使用5nm芯片和高级套餐


德赢娱乐网站【官方平台】半导体工程坐下来讨论先进节点芯片和先进的包装对汽车可靠性的影响,与凯拉战略合作高级总监Jay Indergit;Dennis Ciplickas,PDF解决方案的先进解决方案副总裁;Upialplus汽车​​业务部副总裁副总裁兼总经理Uzi Baruch;Gal Carmel,总经理......“ 阅读更多

预测和避免汽车芯片中的故障


德赢娱乐网站【官方平台】半导体工程坐下来讨论KLA战略合作高级总监Jay Indergit的汽车电子可靠性;Dennis Ciplickas,PDF解决方案的先进解决方案副总裁;Upialplus汽车​​业务部副总裁副总裁兼总经理Uzi Baruch;Proteantecs汽车部总经理Gal Carmel;安德烈梵德......“ 阅读更多

自动IC的部分平均测试不够好


部分平均测试(PAT)已长期用于汽车。对于一些半导体技术,它仍然可行,而对于其他人来说,它不够好。汽车制造商正在支撑在高级流程节点开发的芯片,其具有很多令人振奋的。到目前为止,对供应链的紧密控制和依赖成熟的电子流程使他们能够增加电子组成......“ 阅读更多

一周审查:制造,测试


Chipmakers The U.S. Semiconductor Industry Association (SIA) and several chip executives have sent a joint letter to President Biden, urging the administration to include substantial funding for semiconductor manufacturing and research in the U.S. As reported, the share of global semiconductor manufacturing capacity in the U.S. has decreased from 37% in 1990 to 12% today. “Semiconductors pow...“ 阅读更多

Fab和测试数据太多,利用率低


在半导体和电子制造过程中可以有太多数据可以存在这种东西吗?答案是,它取决于。估计,在半导体供应链中收集的数据的估计80%或更多,从设计到制造和输出到现场。虽然这可能是令人惊讶的,但有一些充分的理由:工程师只看S ...的数据“ 阅读更多

部分平均测试(PAT)


随着半导体制造商生产大量数据,即使使用内部工具也很难保证质量和可靠性。许多公司将部分平均测试(PAT)外包给定制的收益率管理提供商。如果他们符合AEC规定的标准,该工具在保证您的客户的质量和可靠性方面将非常宝贵。点击这里得到...“ 阅读更多

2020年的顶级技术视频


2020年,成型为一年的主要动荡,新兴市场,甚至在某些部门的需求增加。因此,专注于AI,平衡电源和性能,设计和制造在高级节点,高级包装和汽车相关的科目中并不令人惊讶的是,这是最受欢迎的。今年发布的68个视频中,以下是ea中最侧面的以下内容“ 阅读更多

测试更多以提高利润


并非所有芯片都达到规格,而且随着更多数据可用,这些设备的成本继续上升,仍然增加了抢救和其他应用和市场的重新用途芯片的势头。基于性能的Binning与彩色带电电阻一样旧,但实践正在传播 - 即使是最先进的节点和包装。在过去的三十年中,发动机......“ 阅读更多

测试数据格式简介


此博客旨在提供STDF和ATDF数据格式的简介。这并不意图是最终的,只有介绍。如果您经过在电子表格和表中看到数据,则STDF与您习惯的数据非常不同。在这里,我们试图解释。STDF是在一些最大的测试设备之间联合开发的“标准测试数据格式”V ...“ 阅读更多

在很短的供应中测试工程师


半导体设计,验证,制造和测试需要一支工程师,每个人都在玩一个特殊的作用。但越来越多地,这些学科也需要额外的培训能够理解他们的工作周围的背景,并且在芯片行业已经严重缺席时,这一点才能填补不同的职位。这是特别的......“ 阅读更多

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